(多通道光源成像圖)
系統功能特點
√ 光源采用單向散射透鏡技術和準直背技術,消除LED顆粒效應
√ 相機采用12K TDI相機,超高SNR與相應范圍
√ 鏡頭選用大光圈 低畸變 高MTF工業鏡頭
(顯微組合圖)
顆粒檢查設備:
1)使用灰度標定法檢測玻璃基板表面的顆粒物。
2)暗場照明,消除光照本身不均勻對檢測的影響。
3)BOSCH潔凈室專用引動器,帶來高精度、高加速度、高速度驅動能力。
邊緣檢測設備:
1)反射式成像,單一相機完成磨邊所有面檢測。
2)明場照明方式,有效發現各類型缺陷。
3)清晰度評價函數,準確區分缺陷層次。
面檢/復檢設備:
1)明場反射通道、尺寸通道、變形通道結合的三通道成像系統。使用頻閃技術解決相機復用問題。
2)檢測點采用精密氣浮,確保基板傳輸穩定。
3)帶自動增益控制與特制透鏡技術的光源,確保面檢成像清晰。